Microscopio Electrónico de Transmisión

Thermo Fisher Spectra 200

El microscopio de última generación Thermo Fisher Scientific Spectra 200,  es un sistema avanzado de microscopía electrónica de transmisión y barrido (TEM/STEM), equipado con un cañón de emision de campo frio de ultra alta resolución (X-CFEG). Esta fuente proporciona un haz de electrones altamente coherente, intenso y con baja dispersión de energía (~0,4 eV), lo que permite mejorar significativamente la resolución espacial y optimizar el análisis químico mediante espectroscopía EDS. Además, incorpora corrección de aberraciones esféricas en el sistema de iluminación (Cs-corrected STEM), permitiendo alcanzar resolución subatómica (hasta 0,06 nm @ 200 kV) y realizar análisis composicional con resolución atómica mediante espectroscopía de rayos X por dispersión de energía (EDS).

El sistema opera a voltajes de aceleración de 200 kV y 80 kV, siendo este último especialmente adecuado para la caracterización de muestras sensibles al daño por haz electrónico.

Especificaciones técnicas

• Fuente electrónica X-CFEG : Sistema equipado con cañón de emisión de campo frío de ultraalta luminancia (X-CFEG), que proporciona un haz de electrones altamente coherente, de alta corriente y con baja dispersión energética (< 0,4 eV).
• Condiciones de operación: Equipo optimizado para trabajar a 200 kV y 80 kV, con un tiempo de estabilización inferior a 5 minutos, garantizando alta disponibilidad y eficiencia operativa.
• Corrector de aberraciones (S-CORR): Corrector de aberraciones de la sonda hasta quinto orden, que, combinado con la fuente X-CFEG, permite la obtención de imágenes STEM con resolución sub-ångström en todo el rango de voltaje (80–200 kV).
• Resolución espacial en STEM: Resolución de 60 pm a 200 kV y 96 pm a 80 kV, permitiendo la visualización directa de estructuras atómicas con alta precisión.
• Sistema de detección STEM segmentado: Detector segmentado de nueva generación (Panther STEM Detection System) con 16 segmentos, que permite la adquisición simultánea de múltiples señales STEM (BF, DF, HAADF, ABF y DPC), proporcionando información estructural y funcional complementaria.
• Análisis químico mediante EDS Dual-X: Sistema de detección EDS Dual-X con un ángulo sólido efectivo de 1,7 sr, que permite la obtención de mapas composicionales rápidos y cuantitativos a escala atómica.
• Capacidad 4D-STEM: Implementación de técnicas avanzadas 4D-STEM para la adquisición de conjuntos de datos multidimensionales, facilitando el análisis detallado de propiedades estructurales y electrónicas.
• Software y entorno de usuario: El sistema dispone de las versiones completas del software de control y análisis, accesibles desde una estación de trabajo dedicada para los usuarios.